優(yōu)科檢測實驗室配備多臺低溫試驗箱，覆蓋了溫度范圍-70℃至常溫，能夠為各類電子產(chǎn)品、機電裝備、汽車電子、通訊設(shè)備開展低溫試驗、GJB150.4A低溫試驗等環(huán)境適應(yīng)性試驗，篩選試驗，壽命試驗等。
低溫試驗是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性而進行的可靠性試驗。
低溫幾乎對所有的材料都會產(chǎn)生不同程度的不良影響，凡是在低溫條件下存儲和使用的產(chǎn)品，由于低溫的影響，其物理性能、電性能等都將發(fā)生變化，導(dǎo)致暫時性或永久性的性能下降，甚至引起失效。因此只要產(chǎn)品在低于標(biāo)準(zhǔn)溫度下存儲和使用，就應(yīng)考慮低溫對產(chǎn)品的影響。
低溫對產(chǎn)品有很多影響，如脆化、結(jié)冰、粘度增大、固化、機械強度的降低及物理性收縮等， 低溫試驗用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗等。
一般選定恒定的溫度和試驗時間。
常用溫度：-65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，5℃等。
廣東優(yōu)科檢測是具備CNAS和CMA資質(zhì)認(rèn)可的第三方檢測機構(gòu)，可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)的低溫試驗：
GJB150.4A-2009 《軍用裝備試驗室環(huán)境方法 第 4 部分：低溫試驗》
GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫 》
1. 品牌信賴：成立于2007年，中國CNAS、CMA認(rèn)可檢驗的高新企業(yè)，國家級中小企業(yè)公共技術(shù)服務(wù)平臺；
2. 多方認(rèn)證：多個國內(nèi)外機構(gòu)認(rèn)可，資質(zhì)齊全，檢測報告具有國際公信力；
3. 國際標(biāo)準(zhǔn)：實驗室按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025規(guī)范建立運行，符合10多個國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范；
4. 服務(wù)保障：高效一站式檢測認(rèn)證服務(wù)，實驗方案齊全，眾多國內(nèi)外知名企業(yè)信賴。
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