絕緣材料又稱電介質(zhì)，是指在直流電壓作用下，不導(dǎo)電或?qū)щ姌O微的物質(zhì)。絕緣材料的主要作用是在電氣設(shè)備中將不同電位的帶電導(dǎo)體隔離開來，使電流能按一定的路徑流通，還可起機械支撐和固定，以及滅弧、散熱或改善電場的電位分布和保護(hù)導(dǎo)體的作用。

生活中不同電器對其涉及的絕緣材料的要求不盡相同。在我們的日常檢查中也有不少客戶會問起：連接器外殼材料是否要進(jìn)行球壓測試？爬電距離和電氣間隙與材料有什么關(guān)系？

標(biāo)準(zhǔn)IEC 60320-1對器具耦合器的絕緣材料提出了明確要求，我們一起來看看吧。 

關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)IEC 6032-1

IEC 6032-1涉及的產(chǎn)品主要有：

針對材料測試涉及的條款主要有：

器具耦合器絕緣材料測試的常見問題

1. 連接器外殼材料是否要進(jìn)行球壓測試？

電器附件正常工作時會發(fā)熱，材料對于溫度的耐受性直接影響其安全性能，所以對支撐載流和接地部件的絕緣材料需進(jìn)行球壓測試，以減少由于發(fā)熱引起的安全隱患。

對于連接器connector的PVC外殼材料，通常不會直接與插套（socket contacts）接觸而是包裹在支架（insert）的外面，所以無需進(jìn)行球壓測試。

2. 爬電距離和電氣間隙與材料有什么關(guān)系？

IEC 60320-1:2015將爬電距離和電氣間隙與材料組別和產(chǎn)品污染等級結(jié)合起來進(jìn)行考量。對于標(biāo)準(zhǔn)器具耦合器通常按污染等級2來考量（具體污染等級請參考IEC 60664-1），材料組別需參考IEC 60112進(jìn)行CTI耐漏電起痕試驗再依據(jù)IEC 60664-1進(jìn)行材料組別的劃分。

材料組別越高(group I or II)，允許的爬電距離會越??；材料組別越低（group III）,爬電距離要求更大。

例子：測量一連接器功能絕緣（function insulation）的爬電距離，測量值為2.0mm。

◆  如果材料組別為III, 則不滿足標(biāo)準(zhǔn)2.5mm的要求；實際測試時實驗室通常按175V先進(jìn)行材料組別的確認(rèn)（按group III考量），若遇到類似爬電距離不符合要求的情況，實驗室再將材料進(jìn)行400V的CTI進(jìn)行確認(rèn)（group II）。

◆  當(dāng)材料組別為II時, 標(biāo)準(zhǔn)對function insulation的爬電距離的要求將降為1.8mm，此時2.0mm即能滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。

材料組別（material group）的確定是通過CTI來進(jìn)行的，需連續(xù)5個樣品通過測試。這也是VDE為什么要求額外遞交10個材料塊的原因。

3. 器具輸入/輸出插座是否需要做850℃灼熱絲？如果850℃灼熱絲通過，是否需要再做750℃的灼熱絲試驗？

灼熱絲試驗用以考量電子電器產(chǎn)品在工作時當(dāng)部件在故障，過載或其他非正常工作狀態(tài)下可能達(dá)產(chǎn)生高溫度進(jìn)而點燃他們附近的絕緣材料的測試。測試具體參考IEC 60695-2-10;IEC 60695-2-11進(jìn)行。

需要特別注意的是，對于器具輸入/輸出插座，VDE會考慮產(chǎn)品最終是安裝于電器設(shè)備上使用的，會額外參考IEC 60335的要求進(jìn)行850℃的灼熱絲試驗。但即使相同產(chǎn)品先通過了850℃的灼熱絲測試后，也需要再進(jìn)行750℃的灼熱絲試驗。材料通過850℃的測試不能用來覆蓋750℃的測試結(jié)果。（有的inlet外殼比較大且薄，當(dāng)進(jìn)行850℃的灼熱絲時材料直接被迅速燒穿形成一個大窟窿，甚至都不會起燃；但在進(jìn)行750℃的測試時，材料可能會由于較低溫度而慢慢起燃。）

4. 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定熱條件及酷熱條件的器具耦合器，其支撐帶電/接地部件的絕緣材料需要做漏電起痕試驗（175V PTI），是否冷態(tài)的器具耦合器就無需進(jìn)行漏電起痕試驗？

對于耐漏電起痕試驗（tracking），標(biāo)準(zhǔn)要求熱條件及酷熱條件的器具耦合器需進(jìn)行最低175V 的PTI試驗。但基于Clause26爬電距離電氣間隙的要求，需要對材料進(jìn)行材料組別的確認(rèn)，這就要求即使是冷態(tài)產(chǎn)品也需要進(jìn)行tracking試驗，但按材料組別的劃分（material group IIIb: 100 ≤ CTI < 175），當(dāng)材料無法通過175V的試驗時，冷態(tài)器具耦合器可按最低100V進(jìn)行試驗。

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