AEC-Q200 REV D標準總共有14個表格，除表1列出通用測試的要求外，從表 2~14分別列出不同類型無源器件的測試方案和要求。薄膜電容AEC-Q200認證測試依據(jù)Table 4表格進行測試，廣東優(yōu)科檢測具備AEC-Q200全項CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供薄膜電容AEC-Q200認證測試服務，接下來為大家介紹下薄膜電容AEC-Q200認證測試項目及要求。

薄膜電容AEC-Q200認證測試項目及要求

1. High Temperature Exposure (Storage) 高溫存儲

測試方法：MIL-STD-202 Method 108；

測試要求：1000小時。在額定工作溫度下（例如，85°C的零件可在85°C下儲存1000小時，同樣適用于100°C和125°C的零件），不通電。試驗結束后24±4小時進行測量。

2. Temperature Cycling 溫度循環(huán)

測試方法：JES D22 Method JA-104；

測試要求：1000次循環(huán)（-55°C至85°C）注：如果部分溫度為100°C或125°C，則1000次循環(huán)將處于該額定溫度。試驗結束后24±4小時進行測量。每個極端溫度下的最大停留時間為30分鐘。1分鐘，最大過渡時間。

3. Moisture Resistance 濕度抵抗

測試方法：MIL-STD-202 Method 106；

測試要求：t=24小時/周期。注：不需要步驟7a和7b，不通電。試驗結束后24±4小時進行測量。

4. Biased Humidity 偏高濕度

測試方法：MIL-STD-202 Method 103；

測試要求：1000小時40°C/93%相對濕度，額定電壓。試驗結束后24±4小時進行測量。

5. Operational Life 工作壽命

測試方法：MIL-STD-202 Method 108；

測試要求：1000小時TA=85°C，注：如果100°C或125°C為1000小時，則條件D（1000小時）。會在那個溫度下。金屬化膜：85℃時為額定電壓的125%。85℃以上為額定電壓的100%。試驗結束后24±4小時進行測量。

6. External Visual 外觀

測試方法：MIL-STD-883 Method 2009；

測試要求：檢查產(chǎn)品結構、標記和工藝。不需要進行電氣測試。

7. Physical Dimension 尺寸

測試方法：JESD22 Method JB-100；

測試要求：驗證物理尺寸是否符合適用的產(chǎn)品規(guī)范。注：用戶和供應商規(guī)范。不需要進行電氣測試。

8. Terminal Strength (Leaded) 端子強度（引腳）

測試方法：MIL-STD-202 Method 211；

測試要求：僅測試引線設備的引線完整性。條件： A (2.27 kg), C (227 g), E (1.45 kg-mm)。

9. Resistance to Solvents 溶劑抵抗

測試方法：MIL-STD-202 Method 215；

測試要求：注：也可使用水性化學清洗劑-OKEM clean或同等產(chǎn)品。不要使用禁用溶劑。

10. Mechanical Shock 機械沖擊

測試方法：MIL-STD-202 Method 213；

測試要求：方法213的圖1。條件C

11. Vibration 振動

測試方法：MIL-STD-202 Method 204；

測試要求：5克20分鐘，3個方向各12個周期，使用8“X5”PCB，.031”厚。8”一側有7個安全點，另一側有2個安全點。安裝在距任何安全點2”范圍內(nèi)的零件。從10-2000赫茲進行測試。

12. Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱

測試方法：MIL-STD-202 Method 210；

測試要求：注：SMD使用程序2；對于含鉛使用程序1，焊料在裝置主體1.5mm范圍內(nèi)。

13. ESD 靜電放電

測試方法：AEC-Q200-002 Or ISO/DIS10605。

14. Solderability 可焊性

測試方法：J-STD-002；

測試要求：適用于含鉛和SMD。不需要進行電氣測試。放大50倍。條件：含鉛：235°C時的方法A，第3類。SMD: a）方法B，155°C干熱235°C下4小時

b）215°C時的方法b第3類。c）260°c時的方法D第3類。

15. Electrical Characterization 電氣特性

測試方法：用戶規(guī)格；

測試要求：按批次和樣品尺寸要求進行參數(shù)化測試，總結以顯示室溫下的最小、最大、平均和標準偏差以及最小和最大工作溫度。

16. Flammability 可燃性

測試方法：UL-94；

測試要求：可接受V-0或V-1。不需要進行電氣測試。

17. Board Flex 板彎曲

測試方法：AEC-Q200-005；

測試要求：最短保持時間為60秒。

18. Terminal Strength (SMD) 端子強度（SMD）

測試方法：AEC-Q200-006。

薄膜電容AEC-Q200認證測試注意事項

1. 每個環(huán)境應力測試項目前后都要進行電參數(shù)測試，特別要求除外。

2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250，500，1000小時幾個階段。

3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)（25±5 °C ）下進行，應力測試完成后24±4小時內(nèi)進行。

4. No.15 電參數(shù)測試將會在宣稱的低溫，室溫，高溫中進行測試。

5. 接受條件和要求參數(shù)依據(jù)客戶規(guī)格書進行判定，AEC-Q200所有測試只接受零失敗。

以上就是關于薄膜電容AEC-Q200認證測試項目及要求的介紹，如果您有鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容、薄膜電容、可調(diào)電容等電容器產(chǎn)品需要做AEC-Q200認證測試，歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測工程師！