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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2022-10-18 瀏覽數(shù)量：
鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容、電感、變壓器、晶振等車規(guī)電子元器件AEC-Q200認(rèn)證均需要進(jìn)行高溫存儲(chǔ)測(cè)試，AEC-Q200高溫存儲(chǔ)測(cè)試依據(jù)MIL-STD-202 Method 108方法進(jìn)行測(cè)試，接下來(lái)為大家介紹AEC-Q200高溫存儲(chǔ)測(cè)試。
進(jìn)行高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)的目的是確定零件在執(zhí)行其操作功能時(shí)，在規(guī)定時(shí)間內(nèi)暴露于高溫環(huán)境中對(duì)零件電氣和機(jī)械特性的影響。本試驗(yàn)方法不適用于以操作次數(shù)表示壽命的零件。有時(shí)可通過目視檢查確定該試驗(yàn)導(dǎo)致的劣化跡象；然而，通過暴露之前、期間或之后的測(cè)量或測(cè)試，可以更容易地確定影響。浪涌電流、總電阻、介電強(qiáng)度、絕緣電阻和電容是顯示暴露于高溫環(huán)境下有害影響的測(cè)量類型。
試樣安裝
試樣應(yīng)按照規(guī)定的正常安裝方式進(jìn)行安裝。當(dāng)同時(shí)對(duì)多組試樣進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，試樣之間的安裝距離應(yīng)符合各組的規(guī)定。如果未規(guī)定距離，則安裝距離應(yīng)足以將一個(gè)試樣的溫度影響另一個(gè)試樣溫度的程度降至最低。不同材料制成的試樣可能會(huì)相互產(chǎn)生不利影響并改變本試驗(yàn)的結(jié)果，因此不得同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn)。
試驗(yàn)溫度
試樣應(yīng)經(jīng)受以下試驗(yàn)溫度之一，并具有規(guī)定的公差：
對(duì)于僅在靜止空氣環(huán)境中對(duì)電阻器進(jìn)行的試驗(yàn)，最大溫度公差應(yīng)為±5°C（±9°F）。
操作條件
暴露期間應(yīng)用于試樣的試驗(yàn)電位、占空比、負(fù)載和其他操作條件（如適用）應(yīng)符合規(guī)定。
試驗(yàn)時(shí)間
試樣應(yīng)符合以下規(guī)定的試驗(yàn)條件之一：
注：本試驗(yàn)方法刪除了試驗(yàn)條件E（1500小時(shí)試驗(yàn)）。
測(cè)量
應(yīng)按照規(guī)定在暴露之前、期間或之后進(jìn)行規(guī)定的測(cè)量。如果適用，當(dāng)試樣進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，測(cè)量頻率和進(jìn)行測(cè)量的占空比部分應(yīng)符合規(guī)定。
優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證是專業(yè)AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)全項(xiàng)測(cè)試能力，可提供鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容、電感、變壓器、晶振等車規(guī)電子元器件AEC-Q200高溫存儲(chǔ)測(cè)試服務(wù)。
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