TYPE C連接器溫升測試機構(gòu)
溫升測試是用來測量電子設(shè)備在工作條件下的溫度升高情況的一種測試方法。在許多情況下，這種測試被用來評估電子設(shè)備在正常工作條件下是否會發(fā)生過熱，以及過熱會對設(shè)備造成怎樣的影響。隨著快充逐步發(fā)展，對TYPE C連接器額定電流等級也越來越高，各大終端對TYPE C連接器的溫升測試也越來越重視。優(yōu)科檢測認(rèn)證是專業(yè)第三方電子電器檢測實驗室，可提供TYPE C連接器溫升測試服務(wù)，并出具權(quán)威認(rèn)可的第三方檢測報告。
TYPE C連接器溫升測試方法
連接器溫升測試是通過在連接器端加載規(guī)定的額定電流，用溫控記錄儀來收集溫度變化的一項實驗。
測試設(shè)備
負(fù)載儀：實現(xiàn)恒流
溫度記錄儀：監(jiān)測溫度
直流電源：輸出電流
測試條件
依據(jù)USB TYPE C 協(xié)會規(guī)定要求：溫升測試，△T值:30 ℃ Max
額定電流依據(jù)客戶要求，一般為3A,5A,8A,10A或其它客戶要求。
影響連接器溫升測試結(jié)果的因素主要有：
1. 電源導(dǎo)體線徑是否合適，太細(xì)會導(dǎo)致升溫過快過高，影響最終實際結(jié)果，造成誤判；
2. 母座PCB銅箔粗細(xì)是否合適，原理同上；
3. 實驗環(huán)境是否穩(wěn)定，需置于無空氣流動之環(huán)境，必要時使用防護罩；
4. 感溫線貼合是否OK，可以采用高溫膠布，有條件者，可以使用溫升膠固定;
5. 材料的選型，導(dǎo)電率越高的金屬，溫升值會越小。
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