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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2023-01-10 瀏覽數(shù)量:
浪涌測(cè)試是EMC電磁兼容測(cè)試中非常重要的測(cè)試項(xiàng)目,浪涌描述的是存在于電源或信號(hào)線上uS級(jí)以上的脈沖。通常浪涌產(chǎn)生于雷擊或開(kāi)關(guān)瞬變能量。
- 開(kāi)關(guān)瞬變能量通常由于配電系統(tǒng)的電源切換,或是負(fù)載的變化導(dǎo)致。
- 雷擊能量可能是由于直擊雷或感應(yīng)雷作用于系統(tǒng)所產(chǎn)生的瞬變能量。
浪涌測(cè)試是模擬受試設(shè)備的附件發(fā)生雷電時(shí),在受試設(shè)備的電源線和信號(hào)線感應(yīng)的瞬態(tài)現(xiàn)象。這類能量通常很大,浪涌測(cè)試所依據(jù)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)是IEC61000-4-5,對(duì)應(yīng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)是GB/T 17626.5-2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》。
IEC 61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)定義了標(biāo)準(zhǔn)浪涌配置條件。發(fā)生器產(chǎn)生指定波形下的開(kāi)路電壓和內(nèi)阻。常見(jiàn)組合波浪涌波形,在開(kāi)路模式下,發(fā)生器產(chǎn)生1.2/50uS開(kāi)路電壓波,在短路模式下,發(fā)生器產(chǎn)生8/20uS短路電流波。
IEC 61000-4-5 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)法解決在電子系統(tǒng)中一種最常見(jiàn)形式的瞬態(tài)能量:浪涌(Surge)。浪涌起因于雷擊或開(kāi)關(guān)瞬變能量。浪涌能量會(huì)給電子系統(tǒng)帶來(lái)巨大的沖擊,數(shù)據(jù)表明,一半以上的EOS損壞會(huì)來(lái)自于浪涌。
IEC標(biāo)準(zhǔn)定義了對(duì)通過(guò)電源或信號(hào)線到電子設(shè)備中浪涌抗損要求。
在不同環(huán)境,不同信號(hào)線條件下,我們施加給電子設(shè)備的能量有不同的要求,只有符合了這些測(cè)試要求,我們才能順利通過(guò)浪涌相關(guān)的安規(guī)測(cè)試。
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方IEC61000-4-5浪涌測(cè)試機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室配備了一系列專業(yè)的浪涌發(fā)生器,1.2/50us&8/20us組合波發(fā)生器,5/320us&10/700us組合波發(fā)生器,實(shí)驗(yàn)室環(huán)境符合IEC,ITU,F(xiàn)CC等相關(guān)認(rèn)證。有測(cè)試需求的小伙伴,歡迎與我們聯(lián)系!
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