LED燈具是一種廣泛應(yīng)用于照明領(lǐng)域的新型光源，其具有能效高、壽命長、色彩鮮艷等優(yōu)點(diǎn)，因此受到越來越多的關(guān)注和使用。然而，隨著LED燈具的廣泛應(yīng)用，其在使用過程中遇到的環(huán)境條件也變得更加復(fù)雜，如高低溫環(huán)境下的使用情況。為了測試LED燈具在極端環(huán)境下的表現(xiàn)，高低溫沖擊測試成為了一種常見的測試方法。

優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方高低溫測試機(jī)構(gòu)，可提供LED燈具等電子電工產(chǎn)品高低溫測試服務(wù)，接下來為大家介紹高低溫沖擊測試對LED燈具的影響。

高低溫沖擊測試對LED燈具的影響

高低溫沖擊測試是一種模擬極端溫度條件下LED燈具的測試方法，主要是通過在較高和較低的溫度下進(jìn)行多次循環(huán)加熱和冷卻來模擬LED燈具在不同溫度下的工作環(huán)境。這種測試方法可以評估LED燈具在溫度變化環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性，并確定其是否能夠在極端環(huán)境下長期使用。

在高低溫沖擊測試過程中，LED燈具需要經(jīng)歷多次高低溫交替，這可能會對其性能產(chǎn)生影響。

1、高溫會導(dǎo)致LED芯片的電學(xué)特性發(fā)生變化，如降低光通量、提高漏電流等，這可能會導(dǎo)致LED燈具亮度降低、壽命縮短等問題。

2、低溫環(huán)境下，LED燈具中的電解液可能會凝固或凍結(jié)，導(dǎo)致電容降低、電阻升高等問題，進(jìn)而導(dǎo)致LED燈具的性能下降

3、高低溫交替循環(huán)也會導(dǎo)致LED燈具內(nèi)部的熱膨脹和收縮，可能會引起連接線松動或斷裂等問題。

盡管高低溫沖擊測試可能對LED燈具產(chǎn)生負(fù)面影響，但這種測試方法對LED燈具的可靠性和穩(wěn)定性評估非常重要。通過這種測試方法，可以檢測出LED燈具在極端環(huán)境下的性能問題，進(jìn)而優(yōu)化設(shè)計(jì)，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。此外，高低溫沖擊測試還可以提供關(guān)于LED燈具壽命、光衰等方面的有用信息，幫助廠商確定產(chǎn)品的保修期限和使用壽命。高低溫測試的具體溫度、時間等參數(shù)沒有固定標(biāo)準(zhǔn)，一般溫度范圍為-40至150°C，溫度保持時間為2至8小時不等，變溫時長一般半小時以內(nèi)，循環(huán)周期為4至20個周期不等。

常用的LED燈具高低溫試驗(yàn)項(xiàng)目及測試標(biāo)準(zhǔn)

高溫試驗(yàn)

高溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2、IEIA 364、MIL-STD-810F。

低溫試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1、EIA 364、MIL-STD-810F。

溫度沖擊試驗(yàn)

溫度沖擊試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時間、循環(huán)數(shù)。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60068-2-14、GB2423.22、GJB150.5。

快速溫變試驗(yàn)

快速溫變試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍、停留時間以及循環(huán)數(shù)來決定的。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5。