雷擊浪涌測試是電子產(chǎn)品常做的測試項目，優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子產(chǎn)品檢測機構(gòu)，實驗室具備電子產(chǎn)品雷擊浪涌CNAS測試資質(zhì)和測試能力，接下來為大家介紹雷擊浪涌測試對電子設(shè)備的影響。

雷擊浪涌測試對電子設(shè)備的影響

隨著科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成度越來越高，電子元器件也變得更小更精細，同時也變得更加敏感、更加容易受到電磁干擾。因此，浪涌的防護能力也成為了影響電子產(chǎn)品的可靠性以及產(chǎn)品可使用壽命的要素之一，而浪涌的測試與防護也變成了電子行業(yè)日漸重視的一個研究課題。

我們常見的浪涌測試分為三種：分別為電源端浪涌、信號端浪涌、低壓浪涌。

1、電源端浪涌

電源端浪涌為一個1.2/50μs的電壓波和一個8/20μs的電流波組成的組合波，常見的測試產(chǎn)品有充電樁、家電產(chǎn)品、醫(yī)療儀器等AC電源直供產(chǎn)品（部分DC電源供電產(chǎn)品及市電防雷暫不舉例）。該浪涌的破壞性極強，在未進行浪涌防護的情況下，通常會導(dǎo)致電源部分的橋堆短路或炸開、保險絲斷開和濾波電容爆炸等現(xiàn)象；在走線太過細小、銅厚過薄的情況下，也會將走線炸斷。

由于該浪涌造成的損壞對產(chǎn)品的影響最為直觀，所以一般在電路設(shè)計時，就需要在電源輸入端添加壓敏電阻、氣體放電管等防浪涌器件進行保護。

2、信號端浪涌

信號端浪涌為一個10/700μs的電壓波和一個5/320μs的電流波組成的組合波，常見的測試端口有網(wǎng)絡(luò)端口、RS232、RS485等信號端口。

該浪涌通常會使信號處理IC短路、爆炸，或信號走線燒毀，使樣機功能異常，特別是遠距離傳輸?shù)男盘柧€，更加容易受到感應(yīng)浪涌的干擾，因此，通常會在端口位置添加TSS放電管或氣體放電管等防浪涌器件進行保護。

3、低壓浪涌

低壓浪涌的脈沖波形和電源端浪涌相同，也是由一個1.2/50μs的電壓波和8/20μs的電流波組成的組合波。與電源端浪涌的區(qū)別為測試電壓較低，通常為3V至300V。通常由電子產(chǎn)品的熱拔插引起的充電端口浪涌，也有產(chǎn)線生產(chǎn)裝配時對電池端口拔插引起的浪涌。常見的測試產(chǎn)品有TWS耳機、智能手表、Hi-fi播放器、鍵盤、平板、HDMI分配器、對講機等。

低壓浪涌產(chǎn)生的破壞可大可小，以USB充電端口為例，破壞性大時，會對電源IC進行直接損壞，使樣機充電異常；破壞性較小時，會使電源IC性能下降，隨著充電插拔操作的次數(shù)增多，電源IC會失效或者短路。

因此，這種浪涌造成的損壞會在產(chǎn)線中的PCB測試、老化測試、成品測試過程中出現(xiàn)，或者售后消費者使用一段時間后才體現(xiàn)出來。

對于低壓浪涌所造成的損壞后果，輕則影響產(chǎn)線效率，重則造成停產(chǎn)，需要回爐重新設(shè)計，嚴(yán)重影響了交期與公司信譽。如果已大量出貨，一段時間后可能會發(fā)生大量客戶投訴及返修，導(dǎo)致售后維護成本急劇增加，并可能對品牌美譽度造成不可估量的影響。

所以，在產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計初期時就需要預(yù)先增加浪涌防護措施，如對地增加TVS器件、TVS器件與共模器件配合使用等。

綜上所述，浪涌的防護不僅僅是對產(chǎn)品電源部分、信號處理部分的保護，更是對產(chǎn)品的穩(wěn)定性、安全性、可靠性的綜合考慮。所以，在產(chǎn)品設(shè)計時，不僅僅要考慮產(chǎn)品的功能、成本等要求，還應(yīng)該預(yù)留滿足要求的浪涌防護措施來防范于未然。