晶振AEC-Q200認證依據(jù)AEC-Q200 REV E:2023標準Table 11進行測試，優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q200認證測試機構，實驗室具備AEC-Q200標準CNAS全項檢測資質和檢測能力，可提供晶振AEC-Q200認證測試服務，接下來為大家介紹晶振AEC-Q200認證檢測項目。

晶振AEC-Q200認證檢測項目及測試方法

1、Pre- and Post-Stress Electrical Test 應力測試前后電氣測試：User Specification；

2、High Temperature Exposure (Storage) 高溫存儲：MIL-STD-202 Method 108；

3、Temperature Cycling 溫度循環(huán)：JESD22-A104；

4、Humidity Bias 高溫高濕：MIL-STD-202 Method 103；

5、High Temperature Operating Life 高溫工作壽命：MIL-STD-202 Method 108；

6、External Visual 外觀檢查：MIL-STD-883 Method 2009；

7、Physical Dimension 尺寸檢查：JESD22-B100；

8、Terminal Strength（THT） 端子強度：MIL-STD-202 Method 211；

9、Resistance to Solvents 耐溶劑測試：MIL-STD-202 Method 215；

10、Mechanical Shock 機械沖擊：MIL-STD-202 Method 213；

11、Vibration 振動：MIL-STD-202 Method 204；

12、Resistance to Soldering Heat 耐焊接熱：MIL-STD-202 Method 210；

13、ESD靜電測試：AEC-Q200-002；

14、Solderability 可焊性：J-STD-002；

15、Electrical Characterization 電氣特性：User Specification；

16、Flammability 可燃性：UL 94 or IEC 60695-11-5；

17、Board Flex 板彎曲：AEC-Q200-005；

18、Terminal Strength (SMD) 引出端強度（貼片）：AEC-Q200-006。

AEC-Q200認證測試要求

1. 每個環(huán)境應力測試項目前后都要進行電參數(shù)測試，特別要求除外。

2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250，500，1000小時幾個階段。

3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進行，應力測試完成后24±4小時內進行。

4. 電參數(shù)測試需在客戶規(guī)格書中宣稱的低溫，室溫，高溫中進行測試。

5. AEC-Q200認證測試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶規(guī)格書進行判定，所有測試只接受零失敗。

AEC-Q200認證的必要性

無源器件廠家要進入汽車領域，打入各一級(Tier1)汽車電子大廠供應鏈，必須取得兩張門票，第一張是由北美汽車產業(yè)所推的AEC-Q200(無源元件)可靠性標準；第二張門票，則要符合零失效(Zero Defect)的供應鏈質量管理標準ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。

對汽車廠和一級供應商來說，使用通過AEC-Q200認證的電子元器件風險小，通常會要求元器件通過AEC-Q200認證；對電子元器件供應商來說，通過AEC-Q200認證，是產品質量與可靠性的保證，能夠提高產品競爭力及溢價率。

因此，AEC-Q200雖然不是強制性的認證制度，但目前已成為公認的車規(guī)無源器件的通用測試標準。AEC-Q200認證，已成為無源器件是否適合于汽車應用的一個標志，或者說門檻。