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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-11-11 瀏覽數(shù)量：
在現(xiàn)代電子元器件的應用中，確保微電子器件的密封性至關重要，特別是在軍用和高可靠性領域中。GJB548C-2021《微電子器件試驗方法和程序》提供了系統(tǒng)、可靠的密封檢漏方法，其中方法1014.3是專門針對微電子器件氣密性檢測的標準。作為一家專業(yè)第三方電子元器件檢測機構，優(yōu)科檢測具備執(zhí)行此標準的CNAS資質(zhì)和全面的檢測能力，能夠提供高效、精確的GJB548C-2021密封檢漏服務。
GJB548C-2021密封檢漏是指通過特定的測試方法來驗證微電子器件的封裝是否具有良好的氣密性。其主要目的是確保器件內(nèi)的環(huán)境能夠被有效地隔絕，防止外界空氣、濕氣或污染物進入封裝內(nèi)部，保護器件的可靠性和使用壽命。氣密性不足的器件可能會導致內(nèi)部元件受損，功能異常，甚至出現(xiàn)故障，尤其在高要求的軍用和航天應用中，密封性檢測尤為重要。
GJB548C-2021密封檢漏服務適用于各種具有內(nèi)空腔的微電子器件，包括但不限于：
- 軍用微電子元件：如集成電路、傳感器等
- 航天器件：用于衛(wèi)星、飛行器的高可靠性芯片
- 通信設備：射頻模塊和其他封裝器件
- 工業(yè)電子器件：用于惡劣環(huán)境的特殊電子組件
GJB548C-2021中方法1014.3提供了兩種主要的檢漏方式：細檢漏和粗檢漏。
1. 細檢漏（氦氣檢漏）
試驗步驟：
- 將器件置于氦氣環(huán)境中進行“加壓吸收”，使氦氣滲透到可能存在的微小漏點。
- 將器件轉(zhuǎn)移至氦質(zhì)譜檢漏儀中，以檢測是否存在氦氣的泄漏。
- 通過儀器測量泄漏率，驗證其是否符合標準規(guī)定的泄漏限值。
設備要求：
- 氦質(zhì)譜檢漏儀：用于精確檢測氦氣泄漏。
- 加壓腔體：保證器件在受控環(huán)境下加壓。
2. 粗檢漏（氟碳化合物檢漏）
試驗步驟：
- 將器件浸入輕或重氟油中，加壓使可能存在的漏點顯現(xiàn)。
- 在觀察下判斷是否有氣泡溢出，以確定氣密性是否存在問題。
設備要求：
- 加壓罐：用于將器件暴露在加壓氟油中。
- 顯微鏡或放大鏡：便于觀察氣泡。
優(yōu)科檢測作為業(yè)內(nèi)領先的第三方電子元器件檢測機構，擁有GJB548C-2021標準的CNAS檢測資質(zhì)，并具備下列專業(yè)優(yōu)勢：
- 豐富的技術經(jīng)驗：團隊成員熟悉軍用電子元器件的各類測試要求，確保服務的高效性和專業(yè)性。
- 先進設備配置：實驗室配備高精度氦質(zhì)譜檢漏儀和專業(yè)的加壓測試設備，確保測試數(shù)據(jù)的準確性。
- 標準化流程：嚴格遵循GJB548C-2021標準，確保每項檢測都符合相關規(guī)定。
- 個性化服務：根據(jù)客戶需求提供定制化的檢測方案，滿足不同類型元器件的測試要求。
通過選擇優(yōu)科檢測的GJB548C-2021密封檢漏服務，客戶可以確保其電子器件在極端環(huán)境中的可靠性，減少潛在故障風險，確保產(chǎn)品質(zhì)量達到高標準的軍用和工業(yè)級要求。
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