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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-12-09 瀏覽數(shù)量：
在電子產(chǎn)品制造過程中，元器件力學(xué)篩選是確保產(chǎn)品可靠性和性能穩(wěn)定的重要環(huán)節(jié)。作為一家專業(yè)的電子元器件篩選機(jī)構(gòu)，我們致力于提供高標(biāo)準(zhǔn)的元器件二次篩選服務(wù)，為客戶的產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航。
元器件力學(xué)篩選是通過施加振動、沖擊、離心加速度等機(jī)械應(yīng)力，剔除存在制造缺陷的早期失效元器件的非破壞性檢測過程。其目的是確保元器件在惡劣環(huán)境中能夠持續(xù)穩(wěn)定工作。
重要性：
- 提高批次產(chǎn)品的一致性與可靠性
- 剔除潛在失效品，避免產(chǎn)品在實際使用中的功能異常
- 符合軍用、工業(yè)級等高標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的質(zhì)量要求
1. 正弦掃頻測試：
通過特定頻率范圍的振動掃描，剔除機(jī)械結(jié)構(gòu)松動和共振點異常的元器件。
2. 隨機(jī)振動測試：
模擬實際使用環(huán)境中復(fù)雜的振動情況，檢測潛在的短路、斷路故障。
典型振動條件：頻率20-2000Hz，加速度2-20g，掃描1~2周期，在共振點附近要多停留一段時間。
3. 沖擊測試：
采用高加速度短時沖擊，發(fā)現(xiàn)機(jī)械結(jié)構(gòu)不牢固或內(nèi)部連接不可靠的元器件。
典型的沖擊篩選條件是1500-3000g，沖擊3~5次，這項試驗僅適用于元器件。
4. 離心加速度測試：
在高加速旋轉(zhuǎn)環(huán)境下篩選內(nèi)引線匹配不良、鍵合強(qiáng)度低的器件，典型條件為 20000g，持續(xù)1分鐘。
1. 專業(yè)設(shè)備與資質(zhì)認(rèn)證
我們的實驗室擁有先進(jìn)的振動臺、沖擊試驗臺和離心加速度測試系統(tǒng)，具備 CNAS認(rèn)證，服務(wù)能力覆蓋從電子元件到半導(dǎo)體模塊的全系列元器件。
2. 豐富的篩選檢測經(jīng)驗
- 電子元件： 電阻、電容、電感、繼電器等
- 半導(dǎo)體分立器件： 三極管、MOS管、IGBT等
- 半導(dǎo)體集成電路： CPU、FPGA、存儲器等
- 功能模塊： 電源模塊、通訊模塊、控制模塊等
3. 定制化篩選解決方案
根據(jù)客戶需求和應(yīng)用場景，靈活調(diào)整測試方案，確保每個批次的元器件都符合最高標(biāo)準(zhǔn)。
4. 技術(shù)支持與測試報告
提供 詳細(xì)的檢測報告和失效分析，助力客戶精準(zhǔn)掌控產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)過程。
獲取報價
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