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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2022-07-28 瀏覽數(shù)量:
元器件篩選分為生產(chǎn)篩選(即一次篩選)和補充篩選(即二次篩選),元器件篩選是根據(jù)產(chǎn)品固有質(zhì)量特性和裝備可靠性要求,通過一系列非破壞性試驗,剔除不滿足使用要求的元器件的檢驗過程。
電子元器件有效工作壽命就是它的可靠性,即它能夠正常完成某一特定電氣功能的時間。電子元器件失效的過程通常是這樣的:隨著時間的推移或工作環(huán)境的變化,元器件的規(guī)格參數(shù)發(fā)生改變,例如電阻器的阻值變大或變小,電容器的容量減小等。當(dāng)它們的規(guī)格參數(shù)變化到一定限度時,盡管外加工作條件沒有改變,卻也不能承受電路的要求而徹底損壞,使它們的特性參數(shù)消失,例如二極管被電壓擊穿而短路,電阻因阻值變小而超負(fù)荷燒斷等。顯然,這是一個“從量變到質(zhì)變”的過程。
電子元器件的失效率是時間的函數(shù)。統(tǒng)計數(shù)字表明,新制造出來的電子元器件,在剛剛投入使用的一段時間內(nèi),失效率比較高,這種失效稱為早期失效。電子元器件的早期失效,是由于在設(shè)計和生產(chǎn)制造時選用的原材料或工藝措施方面的缺陷而引起的。它是隱藏在元器件內(nèi)部的一種潛在故障,在開始使用后會迅速惡化而暴露出來,元器件的早期失效是十分有害的,但又是不可避免的。在經(jīng)過早期失效期以后,電子元器件將進(jìn)入正常使用階段,其失效率會顯著地迅速降低,這個階段叫做偶然失效期。在偶然失效期內(nèi),電子元器件的失效率很低,而且在極長的時間內(nèi)幾乎沒有變化,可以認(rèn)為它是一個小常數(shù)。在經(jīng)過長時間的使用之后,元器件可能會逐漸老化,失效率又開始增高,直至壽命結(jié)束,這個階段叫做老化失效期。電子元器件典型的失效率函數(shù)曲線如圖1 所示,其變化的規(guī)律就像一個浴盆的剖面,所以這條曲線常被稱為“浴盆曲線”。
電子元器件篩選的原理是給電子元器件施加熱的、電的、機械的或者多種結(jié)合的外部應(yīng)力,模擬惡劣的工作環(huán)境,使它們內(nèi)部的潛在故障加速暴露出來,然后進(jìn)行電氣參數(shù)的測量,篩選剔除了那些失效或變值的元器件,盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。
1. 剔除早期失效產(chǎn)品
2. 提高產(chǎn)品批次使用的可靠性
優(yōu)科檢測認(rèn)證專注電子元器件檢測十五年,具備半導(dǎo)體集成電路、混合集成電路、微波電路及組件、半導(dǎo)體分立器件、光電子器件、通用元件、機電元件及組件、特種元件及外殼等元器件的篩選老化能力。可開展電子元器件二次篩選、元器件破壞性物理分析(DPA)、元器件失效分析(FA)、元器件安規(guī)認(rèn)證等元器件檢測認(rèn)證服務(wù)。
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