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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2022-10-10 瀏覽數(shù)量：
電子元器件篩選檢測是在電子元器件各種失效模式的基礎(chǔ)上，進行的一系列有針對性的試驗，從而達到有效剔除早期失效的目的。接下來為大家介紹電子元器件篩選試驗項目與標準。
- 電性能相關(guān)試驗：常溫測試、高溫測試、低溫測試、高溫老煉、高溫反偏、內(nèi)部潮濕。
- 氣候環(huán)境試驗：溫度循環(huán)、溫度沖擊、熱沖擊、穩(wěn)定性烘焙、穩(wěn)態(tài)壽命、穩(wěn)態(tài)工作壽命。
- 機械應力試驗：恒定加速度、掃頻振動、顆粒碰撞噪聲檢測、嚙合力和分離力、接觸件嵌入力和卸出力、接觸件插入力和分離力。
- 封裝相關(guān)試驗：外觀檢查、密封性檢-粗檢、密封性檢查-細檢、X-ray。
- GJB 548B-2005 《微電子器件試驗方法和程序》
- GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗方法》
- GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》
- GJB 33A-1997 《半導體分立器件總規(guī)范》
- GB/T 17574-1998 《半導體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路》
- GJB 2138A-2015 《石英晶體元件總規(guī)范》
- GJB 1648A-2011 《晶體振蕩器總規(guī)范》
- GJB 2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》
- GJB 63C-2015 《有可靠性指標的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》
- GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》
- GJB 597B-2012 《半導體集成電路通用規(guī)范》
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優(yōu)科元器件篩選中心擁有各種專業(yè)檢驗檢測儀器設(shè)備百余臺/套，其中包括AdvanTest SOC芯片測試系統(tǒng)、混合信號測試系統(tǒng)、Chroma DC/DC測試系統(tǒng)等進口測試系統(tǒng)以及業(yè)內(nèi)認可度較高的測試儀器儀表，是專業(yè)第三方電子元器件篩選檢測公司。
我司有著豐富的電子元器件篩選檢測經(jīng)驗，可通過選擇適當?shù)碾娮釉骷魏Y選流程，激發(fā)電子元器件潛在設(shè)計、生產(chǎn)缺陷，有效剔除早期失效產(chǎn)品，提高整機系統(tǒng)的可靠性，為客戶產(chǎn)品研制提供堅實基礎(chǔ)。
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