電磁兼容ESD靜電放電測(cè)試

電磁兼容ESD靜電放電測(cè)試是所有電子設(shè)備必須要通過(guò)的測(cè)試，其目的是仿真操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)產(chǎn)生的放電以及人或物體對(duì)鄰近物體之放電，以檢測(cè)被測(cè)設(shè)備抵抗靜電放電之干擾能力。

靜電放電試驗(yàn)主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時(shí)所引起的放電（直接放電），以及人或物體對(duì)設(shè)備鄰近物體的放電（間接放電）時(shí)對(duì)設(shè)備工作造成的影響。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-2/GBT17626.2的定義，靜電放電就是具有不同靜電電位的物體相互靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。靜電放電時(shí)可以在0.5～20ns的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生1～50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時(shí)間很短，故能量很小。所以一般靜電放電不會(huì)對(duì)人產(chǎn)生傷害，但對(duì)集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。

試驗(yàn)環(huán)境條件

氣候環(huán)境：環(huán)境溫度15°C ~30 °C；

相對(duì)濕度：30%~60%；

大氣壓力：86kPa ~ 106kPa；

電磁環(huán)境：不影響試驗(yàn)結(jié)果的環(huán)境。

試驗(yàn)布置

雖然靜電放電試驗(yàn)非常容易，但它是所有EMC測(cè)試項(xiàng)目中重復(fù)性最低的測(cè)試項(xiàng)目之一。

在做靜電放電測(cè)試時(shí)，經(jīng)常會(huì)碰到這種情況：同一個(gè)被測(cè)品在A實(shí)驗(yàn)室通過(guò)了，但是在B實(shí)驗(yàn)室卻通不過(guò)，導(dǎo)致此種情況的原因，可以總結(jié)分析出以下幾種可能：

1. 由于測(cè)試設(shè)備的不同，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不同；

2. 由于測(cè)試環(huán)境的不同，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不同；

3. 由于測(cè)試人員的不同，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不同；

靜電放電電流波形的規(guī)定，主要的四個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)為：首次峰值電流Ip；上升時(shí)間Tr；30ns時(shí)的電流值I30；60ns時(shí)的電流值I60。從上表中可以看出這四個(gè)指標(biāo)的容許偏差都較大，首次峰值電流Ip為±15%，上升時(shí)間Tr為±25%，30ns時(shí)的電流值I30為±30%，60ns時(shí)的電流值I60為±30%。

放電類(lèi)型：

接觸放電、空氣放電

試驗(yàn)等級(jí)：

規(guī)定接觸放電等級(jí)有：2kv、4kv、6kv、8kv、開(kāi)放等級(jí)（用戶(hù)指定）

空氣放電等級(jí)：2kv、4kv、8kv、15kv、開(kāi)放等級(jí)（用戶(hù)指定）

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.2-2018，IEC 61000-4-2：2008

判定等級(jí)：

A級(jí)：功能和性能沒(méi)有任何影響；

B級(jí)：功能或性能有暫降，可以自動(dòng)恢復(fù)；

C級(jí)：功能或性能有暫降，需要人為干預(yù)才能恢復(fù)；

D級(jí)：硬件損壞，不可恢復(fù)。

做靜電放電試驗(yàn)前需要注意哪些問(wèn)題：

1、確認(rèn)產(chǎn)品具備典型的工作狀態(tài)；

2、按臺(tái)式設(shè)備還是落地式設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)；

3、確定施加靜電放電的部位、施加接觸放電還是空氣放電、施加放電的次數(shù)是多少；

4、依據(jù)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、確定測(cè)試的等級(jí)、采用的試驗(yàn)判據(jù)。