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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-06-06 瀏覽數(shù)量：
AEC-Q認證振動沖擊測試在于評估汽車電子元件在面對振動和沖擊時的可靠性和耐久性。這些產(chǎn)品通常會在車輛的復雜工況下工作，例如在崎嶇的道路上行駛、在高速公路上行駛時的顛簸以及急剎車等情況下。因此，這些產(chǎn)品必須能夠承受來自車輛振動和沖擊的影響，保持正常的功能和性能。
接受條件：0失效
測試方法：JEDEC JESD22-B103
標準 | 測試對象 | 測試數(shù)量 | 測試條件 |
AEC-Q100 | 集成電路 | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
AEC-Q101 | 離散半導體 | 僅針對密封件 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g； |
AEC-Q102 | 離散光電半導體器件 | 3批次中各取10個 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g； |
AEC-Q103-002 | 微機電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件 | 3批次中各取39個 | M1等級：20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g |
AEC-Q103-003 | 微機電系統(tǒng)(MEMS)麥克風器件 | 3批次中各取12個 | 20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＜12min，每軸向4次；峰值加速度20g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
AEC-Q104 | 多芯片模塊(MCM) | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
接受條件：0失效
測試方法：JEDEC JESD22-B110
| 標準 | 測試對象 | 測試數(shù)量 | 測試條件 |
AEC-Q100 | 集成電路 | 15 | 僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進行。 |
AEC-Q101 | 離散半導體 | 僅針對密封件 | 1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要測試電氣參數(shù) |
AEC-Q102 | 離散光電半導體器件 | 3批次中各取10個 | 1500g,0.5ms，5擊，3次/方向。 在MS前和MS后的測試，或僅在CA前和MS后進行測試。 |
AEC-Q103-002 | 微機電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件 | 3批次中各取39個 | M1級： ?測試條件：每軸雙向5個脈沖，0.3ms持續(xù)時間，6000g峰值加速度等級M2： ?測試前：下列每次測試#G3的恒定加速度（CA） ?測試條件：每軸雙向10個脈沖，0.3ms持續(xù)時間，6000g峰值加速度 替代測試條件：依照任務剖面（安裝位置定義的機械條件） 室溫下MS前后測試。 后測試：IV（PS11）和WBP（C2）進行5個裝置的測試。 |
AEC-Q103-003 | 微機電系統(tǒng)(MEMS)麥克風器件 | 3批次中各取12個 | 3個脈沖，0.5毫秒持續(xù)時間，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進行震動前后測試。 |
AEC-Q104 | 多芯片模塊(MCM) | 15 | 僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進行。 |
優(yōu)科是專業(yè)第三方AEC-Q認證機構，實驗室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標準CNAS檢測資質及CNCA發(fā)證資質，可提供車規(guī)級集成電路、分立半導體器件、光電半導體器件、傳感器、被動元件等汽車電子元件AEC-Q檢測認證服務。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質量指標，定義符合汽車電子質量要求的測試計劃，助力客戶快速進入汽車電子市場。
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