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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2023-06-06 瀏覽數(shù)量:
隨著汽車(chē)電子朝著智能化、信息化、網(wǎng)絡(luò)化方向發(fā)展,新能源汽車(chē)的產(chǎn)銷(xiāo)量爆發(fā)性增長(zhǎng),半導(dǎo)體分立器件在汽車(chē)電子產(chǎn)品中的應(yīng)用呈現(xiàn)出更大的發(fā)展空間。
AEC-Q101認(rèn)證包含了分立半導(dǎo)體元件(如晶體管,二極管等)最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件,目的是要確定分立器件在汽車(chē)環(huán)境應(yīng)用中能夠通過(guò)應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。根據(jù)AEC-Q101認(rèn)證規(guī)范,分立半導(dǎo)體元件的最低溫度的范圍應(yīng)為-40℃~+125℃,所有LED的最小范圍應(yīng)為-40℃~+85℃。認(rèn)證測(cè)試通用測(cè)試項(xiàng)目見(jiàn)下表,并非所有測(cè)試都適用于所有部件。例如,某些測(cè)試只適用于密封包裝的部件,其他測(cè)試只適用于MOSFET部件等。
AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)將試驗(yàn)分為5組,Group A為加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn),Group B加速壽命模擬試驗(yàn),Group C封裝完整性試驗(yàn),Group D模具制造可靠性試驗(yàn),Group E電氣驗(yàn)證試驗(yàn),相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目,參考標(biāo)準(zhǔn),樣品量及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)如下:
TEST GROUP A – 加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試 | |||||
序號(hào) | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
A1 | 預(yù)處理 | PC | JESD22A-113 JEDEC/IPC J-STD-020 | 依據(jù)具體測(cè)試項(xiàng)目 | 0失效 |
A2 | 高加速應(yīng)力試驗(yàn) | HAST | JESD22A-110 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A2alt | 高溫高濕反向偏壓 | H3TRB | JESD22A-101 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A3 | 無(wú)偏高加速應(yīng)力試驗(yàn) | UHAST | JESD22A-118 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A3alt | 高壓 | AC | JESD22A-102 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A4 | 溫度循環(huán) | TC | JESD22A-104 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A4a | 溫度循環(huán)熱試驗(yàn) | TCHT | JESD22A-104 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A4a alt | 溫度循環(huán)分層試驗(yàn) | TCDT | JESD22A-104 J-STD-035 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A5 | 間隙工作壽命 | IOL | MIL-STD-750 方法1037 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
A5alt | 功率和溫度循環(huán) | PTC | JESD22A-105 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
TEST GROUP B – 加速壽命模擬試驗(yàn) | |||||
序號(hào) | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
B1 | 高溫反向偏壓 | HTRB | MIL-STD-750-1 M1038 條件 A (二極管,整流器和齊納), M1039 條件 A (晶體管) | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
B1a | 交流阻斷電壓 | ACBV | MIL-STD-750-1 M1040 條件A | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
B1b | 穩(wěn)態(tài)運(yùn)行 | SSOP | MIL-STD-750-1 M1038 條件B(齊納二極管) | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
B2 | 高溫柵偏壓 | HTGB | JESD22A-108 | 77個(gè),3批次 | 0失效 |
TEST GROUP C – 封裝完整性試驗(yàn) | |||||
序號(hào) | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
C9 | 熱阻 | TR | JESD24-3,24-4,24-6 | 10個(gè)/批預(yù)處理和后處理,1批次 | 0 |
C10 | 可焊性 | SD | J-STD-002 | 10個(gè),1批次 | 0 |
C11 | 晶須生長(zhǎng)評(píng)價(jià) | WG | AEC-Q005 | / | / |
C12 | 恒定加速 | CA | MIL-STD-750-2,Method 2006 | 30個(gè),1批次 | 0 |
C13 | 變頻振動(dòng) | VVF | JESD22B-103 | 30個(gè),1批次 | 0 |
C14 | 機(jī)械沖擊 | MS | JESD22B-104 | 30個(gè),1批次 | 0 |
C15 | 氣密性 | HER | JESD22A-109 | 30個(gè),1批次 | 0 |
TEST GROUP D – 模具制造可靠性試驗(yàn) | |||||
序號(hào) | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
D1 | 介質(zhì)完整性 | DI | AEC-Q101-004章節(jié)3 | 5個(gè),1批次 | 0 |
TEST GROUP E – 電氣驗(yàn)證試驗(yàn) | |||||
序號(hào) | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 | 樣品量 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
E0 | 外觀檢查 | EV | JESD22B-101 | 所有樣品 | 0失效 |
E1 | 應(yīng)力測(cè)試前后電性能測(cè)試 | TEST | 客戶規(guī)范 | 所有樣品 | 0失效 |
E2 | 參數(shù)驗(yàn)證 | PV | 客戶規(guī)范 | 25個(gè),3批次 | / |
E3 | ESD HBM | ESDH | AEC-Q101-001 | HBM30個(gè),1批次 | / |
E4 | ESD CDM | ESDC | AEC-Q101-005 | HDM30個(gè),1批次 | / |
E5 | 鉗位感應(yīng)開(kāi)關(guān) | UIS | AEC-Q101-004章節(jié)2 | 5個(gè),1批次 | 0失效 |
E6 | 短路可靠性 | SC | AEC-Q101-006 | 10個(gè),3批次 | 0失效 |
優(yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方AEC-Q101認(rèn)證機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)及CNCA發(fā)證資質(zhì),可提供汽車(chē)半導(dǎo)體分立器件AEC-Q101認(rèn)證、AECQ101測(cè)試服務(wù)。我們可協(xié)助汽車(chē)分立半導(dǎo)體企業(yè)制定符合AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)證步驟和實(shí)驗(yàn)方法,幫助廠商進(jìn)入車(chē)廠供應(yīng)鏈,縮短與采購(gòu)商的溝通時(shí)間,推動(dòng)產(chǎn)品品質(zhì)的提高和可交換性。
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