電子元器件是確保電子設(shè)備高度可靠的基本組成部分。元器件的可靠性包括固有可靠性和使用可靠性?xún)蓚€(gè)方面。固有可靠性是可靠性的基礎(chǔ)，而使用可靠性指的是元器件在工作條件、環(huán)境條件和人為因素等方面引發(fā)的可靠性問(wèn)題。通過(guò)進(jìn)行元器件的二次篩選，可以有效剔除具有缺陷的元器件，避免使用這些缺陷元器件，從而有效提高產(chǎn)品的使用可靠性。

改善電子元器件可靠性

由于元器件存在缺陷是難以避免的，我們應(yīng)該采取一系列非破壞性的篩選試驗(yàn)，施加合理的應(yīng)力，剔除具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品，使其在浴盆曲線的早期失效階段得以排除。因此，在整個(gè)產(chǎn)品壽命周期中，必須采取積極主動(dòng)的工藝手段，對(duì)產(chǎn)品施加適當(dāng)應(yīng)力，使?jié)撛谌毕莸靡约ぐl(fā)，問(wèn)題提前暴露，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量。盡管可靠性篩選不能提高元器件個(gè)體的固有可靠性水平，但通過(guò)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)和制造方面引起的缺陷，并將其反饋到設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的質(zhì)量控制中，可以采取糾正措施，真正提高產(chǎn)品的可靠性。

電子元器件的二次篩選和其重要性

電子元器件的二次篩選質(zhì)量直接影響型號(hào)產(chǎn)品的質(zhì)量。目前，由于同一種器件在不同型號(hào)的產(chǎn)品中具有不同的篩選要求，且送篩器件的批次和數(shù)量往往無(wú)法滿(mǎn)足產(chǎn)品要求的時(shí)間進(jìn)度。此外，由于篩選技術(shù)的局限性，仍然無(wú)法達(dá)到將早期失效的元器件完全剔除的理想目標(biāo)。因此，提高元器件篩選質(zhì)量和效率成為元器件篩選工作的主要目標(biāo)。

二次篩選針對(duì)不同失效模式進(jìn)行試驗(yàn)，以剔除不合格的元器件，或由于某種缺陷可能導(dǎo)致早期失效的元器件。通過(guò)二次篩選不能提高元器件個(gè)體的固有可靠性水平，但可以通過(guò)剔除不合格品來(lái)改善批次的固有可靠性水平。在相同環(huán)境類(lèi)別下，相同環(huán)境下的產(chǎn)品的元器件篩選要求可以統(tǒng)一，因?yàn)橄嗤h(huán)境下同一類(lèi)器件的環(huán)境系數(shù)是相同的。因此，可以制定相同環(huán)境下的產(chǎn)品的統(tǒng)一篩選要求，以提高元器件篩選質(zhì)量和效率。

電子元器件二次篩選的要求和注意事項(xiàng)

二次篩選工作中的試驗(yàn)和應(yīng)力選擇是根據(jù)產(chǎn)品的使用要求制定的，篩選要求既不能過(guò)于嚴(yán)格也不能過(guò)于寬松。過(guò)于嚴(yán)格的篩選要求會(huì)將原本滿(mǎn)足產(chǎn)品使用要求的元器件淘汰，增加篩選成本和元器件的使用成本。在某些情況下，可能會(huì)對(duì)元器件造成損壞，進(jìn)而引發(fā)更多質(zhì)量隱患。而過(guò)于寬松的篩選條件則可能導(dǎo)致不滿(mǎn)足產(chǎn)品要求的元器件通過(guò)篩選，從而影響產(chǎn)品的可靠性。因此，必須制定適合的篩選應(yīng)力條件，這將直接影響產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性。

二次篩選的作用僅限于改善元器件批次的質(zhì)量。因此，已確定滿(mǎn)足整機(jī)要求的元器件應(yīng)盡量避免進(jìn)行電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力的篩選項(xiàng)目，只進(jìn)行一些必要的檢查和測(cè)試項(xiàng)目。例如，符合我國(guó)軍用電子元器件合格產(chǎn)品目錄和合格制造商目錄的元器件，其篩選項(xiàng)目和應(yīng)力條件應(yīng)滿(mǎn)足產(chǎn)品要求，無(wú)需進(jìn)行二次篩選。對(duì)于貼片元器件的封裝形式一般為盤(pán)封，主要用于表面貼裝生產(chǎn)線，篩選后可能會(huì)影響焊接質(zhì)量和可靠性，因此不適宜進(jìn)行二次篩選。另外，還可以根據(jù)產(chǎn)品的用途有選擇性地進(jìn)行篩選，如考核抗幅照能力等。對(duì)于航天電子設(shè)備，這是必須考慮的因素，而對(duì)于地面電子設(shè)備，基本上可以不考慮。

在進(jìn)行電子元器件的二次篩選時(shí)，還需要注意不當(dāng)?shù)牟僮骱头雷o(hù)可能導(dǎo)致電子元器件的潛在問(wèn)題或直接導(dǎo)致失效。因此，在二次篩選檢測(cè)和測(cè)試中，需要注意環(huán)境保護(hù)、操作和靜電防護(hù)等方面，以確保電子元器件的可靠性。篩選時(shí)選擇的應(yīng)力應(yīng)確保不會(huì)對(duì)正常元器件造成損壞、損傷或明顯縮短其使用壽命。此外，二次篩選試驗(yàn)的溫度不得超過(guò)被試元器件詳細(xì)規(guī)范中規(guī)定的極限溫度（包括正極限溫度和負(fù)極限溫度），以防止因元器件的封裝材料、結(jié)構(gòu)等原因無(wú)法達(dá)到試驗(yàn)項(xiàng)目中規(guī)定的溫度要求而損壞元器件。原則上，過(guò)應(yīng)力條件篩選的元器件不得用于裝機(jī)。

測(cè)試順序的安排應(yīng)使后續(xù)參數(shù)能夠檢查在前面參數(shù)測(cè)試后可能出現(xiàn)的變化。對(duì)于要求耐電壓和絕緣電阻測(cè)試的元器件，應(yīng)先進(jìn)行耐壓測(cè)試，然后進(jìn)行絕緣測(cè)試，最后進(jìn)行功能參數(shù)測(cè)試。對(duì)于要求擊穿電壓和漏電流測(cè)試的元器件，應(yīng)先進(jìn)行擊穿電壓測(cè)試，然后進(jìn)行漏電流測(cè)試，最后進(jìn)行功能參數(shù)測(cè)試。遞減失效率函數(shù)的元器件適合進(jìn)行篩選，但并非所有適合篩選的元器件都滿(mǎn)足此條件。隨著電子元器件小型化的發(fā)展，我們還應(yīng)不斷擴(kuò)展和研究控制元器件質(zhì)量的新篩選方法，為整機(jī)產(chǎn)品使用的電子元器件的可靠性提供可靠的保障。

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