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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-08-03 瀏覽數(shù)量：
X-ray檢測是一種發(fā)展成熟的無損檢測方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。
X-ray檢測是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-ray形式放出對樣品進行穿透性檢測的一種方法。
利用X-ray穿透不同密度物質(zhì)后其射線強度的變化可形成樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的影像，因此可以對樣品進行無損的內(nèi)部分析，是最常見的無損檢測技術(shù)之一。
X-ray檢測技術(shù)可以對金屬材料及零部件、電子元器件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷進行檢測，以及對BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析；判別空焊，虛焊等BGA焊接缺陷，對電纜，裝具，塑料件等內(nèi)部情況進行分析。
它具有穿透成像的功能，可以在不破壞樣品的情況下清楚地檢測出電子元件的內(nèi)部缺陷。除電容器X射線檢查外，X射線還可以執(zhí)行以下檢查：組件層剝離，破裂，空隙和電纜完整性檢查。
在電子元件的生產(chǎn)中，PCB板可能會存在諸如對齊不良或橋接和斷路之類的缺陷。SMT焊點腔檢查，例如，檢測各種連接線中的開路，短路或異常連接缺陷；檢查焊球陣列包裝和芯片包裝中焊球的完整性；檢測到高密度塑料材料裂縫或金屬材料；芯片尺寸測量，電弧測量，元件錫面積測量等。
- GB/T19293-2003；
- GB17925-2011；
- GB/T 23909.1-2009等等。
1. 確認樣品類型和材料；
2. 樣品放入X-ray設(shè)備檢測；
3. 拍照分析；
4. 標注缺陷類型以及位置。
優(yōu)科檢測認證是專業(yè)第三方電子元器件檢測機構(gòu)，專注電子元器件檢測近二十年，可提供電子元器件及零部件的安規(guī)認證、二次篩選、車規(guī)級認證（AEC-Q100/101/102/103/104/200）、X-ray無損檢測、DPA測試、FA失效分析、環(huán)境可靠性驗證等檢測認證服務(wù)。
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