元器件篩選及失效分析實(shí)驗(yàn)室

優(yōu)科檢測是具備CNAS、DILAC實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)可的元器件篩選及失效分析實(shí)驗(yàn)室，至今已有15年的行業(yè)檢測經(jīng)驗(yàn)，可提供電子元器件二次篩選、元器件失效分析（FA）、GJB150環(huán)境可靠性試驗(yàn)等電子元器件可靠性驗(yàn)證服務(wù)。

元器件篩選及失效分析服務(wù)對象

1. 電子元件：電阻、電容、電感、磁珠、變壓器、晶體振蕩器、晶體諧振器、繼電器、電連接器等；

2. 半導(dǎo)體分立器件：二極管、三極管、MOS管、IGBT等；

3. 半導(dǎo)體集成電路：CPU、存儲器、FPGA、AD/DA、數(shù)字電路、模擬電路、混合電路、DC/DC等；

4. 電子模塊：電源模塊、通訊模塊、控制模塊等具備相對功能完整電路。

元器件二次篩選檢測項(xiàng)目

1. 檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查等；

2. 密封性篩選：浸液檢漏篩選、氦質(zhì)譜儀檢漏篩選、放射性篩選、氣泡篩選、氣泡法、示蹤檢漏法等；

3. 環(huán)境應(yīng)力篩選：高溫老化、溫度循環(huán)、溫度沖擊、正弦掃頻、隨機(jī)振動、沖擊、離心加速度等；

4. 壽命篩選：高溫貯存、低溫貯存、老煉篩選、精密篩選、線性判別等；

5. 電測試篩選等。

元器件失效分析檢測項(xiàng)目

1. 形貌分析：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束；

2. 成分檢測：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜；

3. 電分析：V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性；

4. 開封制樣：化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片、IC取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、DB FIB；

5. 缺陷定位：液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH、PN結(jié)染色、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測。

我們的優(yōu)勢

1. 專家團(tuán)隊(duì)

可靠性檢測專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團(tuán)隊(duì)50余人。

2. 專業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機(jī)械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級檢測體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機(jī)構(gòu)。