優(yōu)科電子元器件篩選實(shí)驗(yàn)室占地約2400平米，擁有全套資質(zhì)和專業(yè)團(tuán)隊(duì)36人，配備180臺(tái)/套先進(jìn)的元器件篩選設(shè)備。我們致力于為客戶提供高質(zhì)量的電子元器件篩選服務(wù)，包括恒定加速度篩選試驗(yàn)、電子元器件二次篩選、元器件失效分析（FA）及可靠性驗(yàn)證等。

恒定加速度篩選試驗(yàn)簡(jiǎn)介

恒定加速度篩選試驗(yàn)，又稱離心加速度試驗(yàn)，是利用機(jī)械旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生恒定加速度，以測(cè)試元器件在離心加速度作用下的適應(yīng)能力和結(jié)構(gòu)牢固度。通過(guò)此試驗(yàn)，可以彌補(bǔ)沖擊和振動(dòng)試驗(yàn)中未能發(fā)現(xiàn)的結(jié)構(gòu)或機(jī)械類型缺陷。

在實(shí)際工作環(huán)境中，元器件通常不會(huì)遭受很大的離心加速度，只有在特定情況下如飛機(jī)轉(zhuǎn)彎、火箭發(fā)射或?qū)椄淖兎较驎r(shí)，可能會(huì)受到較大的離心加速度（10g~200g）。因此，國(guó)內(nèi)外對(duì)元器件的篩選要求設(shè)定在5kg~30kg范圍內(nèi)，旨在篩選出粘片欠佳、內(nèi)引線與鍵合點(diǎn)強(qiáng)度較差的器件，而不是模擬器件實(shí)際使用環(huán)境。

試驗(yàn)?zāi)康?/h2>

恒定加速度篩選試驗(yàn)的主要目的是評(píng)估元器件在X/Y/Z/X-/Y-/Z-六個(gè)方向上承受離心力的能力。通過(guò)此試驗(yàn)，可以暴露出由于元器件結(jié)構(gòu)強(qiáng)度低或固有機(jī)械缺陷引起的失效情況，如芯片脫落、內(nèi)引線開(kāi)路、框架變形和漏氣等問(wèn)題。

試驗(yàn)方法

我們常用的恒定加速度試驗(yàn)方法有兩種：

1. 埋沙法

在埋沙法中，將元器件放入一個(gè)外形為立方體、內(nèi)腔為圓柱體的夾具內(nèi)固定住進(jìn)行試驗(yàn)。這種方法能夠有效固定元器件，并通過(guò)離心力測(cè)試其抗壓能力。

2. 磁貼法

磁貼法利用磁力將元器件吸附在夾具上進(jìn)行試驗(yàn)。這種方法簡(jiǎn)單便捷，但需要確保磁力足夠強(qiáng)大以固定元器件。

可能暴露的缺陷

恒定加速度試驗(yàn)中可能暴露的缺陷包括：

- 結(jié)構(gòu)缺陷

- 芯片粘片問(wèn)題

- 芯片裂紋

- 引線鍵合缺陷

- 機(jī)械強(qiáng)度不足

注意事項(xiàng)

1. 施加的應(yīng)力強(qiáng)度：應(yīng)根據(jù)管殼質(zhì)量、管殼內(nèi)腔周長(zhǎng)及器件類型嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定執(zhí)行，以免由于過(guò)應(yīng)力給器件留下隱患。

2. 固定器件外殼：器件外殼應(yīng)采用專用夾具固定，以免對(duì)外殼產(chǎn)生損傷性應(yīng)力。例如，使用細(xì)砂物質(zhì)作填充料的離心罐應(yīng)盡量填實(shí)，并對(duì)器件表面加以保護(hù)，以免填充料磨損器件表面或壓凹器件管帽。

3. 試驗(yàn)方向：對(duì)于內(nèi)部元件主基座平面與Y軸垂直的器件，管殼安裝方向應(yīng)使芯片脫離粘結(jié)方向，即僅在稱為Y1的方向進(jìn)行試驗(yàn)。

優(yōu)科電子元器件篩選實(shí)驗(yàn)室以專業(yè)的團(tuán)隊(duì)、先進(jìn)的設(shè)備和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶?shí)驗(yàn)方法，為客戶提供高質(zhì)量的恒定加速度篩選試驗(yàn)服務(wù)。歡迎聯(lián)系咨詢更多詳細(xì)信息，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。