在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用過程中，二極管元器件的早期失效是一個(gè)常見的問題。為了提高產(chǎn)品的可靠性并確保其在實(shí)際應(yīng)用中的穩(wěn)定性，電子元器件的二次篩選已成為一項(xiàng)至關(guān)重要的流程。二次篩選旨在通過一系列有針對(duì)性的測(cè)試，剔除潛在的早期失效產(chǎn)品，激發(fā)出元器件潛在的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)缺陷，從而提升整機(jī)系統(tǒng)的可靠性。

優(yōu)科檢測(cè)作為專業(yè)的第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，具備篩選包括二極管在內(nèi)的多種電子及電氣元件的資質(zhì)和能力。以下是關(guān)于二極管元器件篩選項(xiàng)目及方法的詳細(xì)介紹。

篩選依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

二極管元器件的篩選依照以下標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行：

- GJB 7243-2011: 專用電子元器件篩選技術(shù)要求

- GJB 33A-1997: 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范

- GJB128B-2021: 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

篩選項(xiàng)目及方法

1. 編序列號(hào)

   為每個(gè)二極管元器件分配唯一的序列號(hào)，以確保在整個(gè)篩選過程中的可追溯性。

2. 電參數(shù)測(cè)試(室溫)

   在室溫下測(cè)試二極管的關(guān)鍵電參數(shù)，如正向電壓（VF）、反向電壓（VR）或反向電流（IR）。這些參數(shù)的測(cè)量和合格標(biāo)準(zhǔn)需依據(jù)詳細(xì)規(guī)范或產(chǎn)品手冊(cè)的要求。

3. 溫度循環(huán)

   依據(jù)GJB128A 1051方法 條件B，對(duì)二極管進(jìn)行5次溫度循環(huán)測(cè)試。該測(cè)試旨在模擬二極管在不同溫度環(huán)境下的性能，確保其在溫度變化中依然可靠。

4. 恒定加速度

   根據(jù)GJB128A 2006方法，對(duì)Y1方向施加196000m/s2的恒定加速度，以評(píng)估二極管在高速運(yùn)動(dòng)或振動(dòng)環(huán)境中的可靠性。對(duì)于IF≥10A的器件，施加的加速度為98000m/s2。

5. 外觀及機(jī)械檢查

   使用10倍放大鏡或顯微鏡，依據(jù)GJB128A 2071方法進(jìn)行外觀和機(jī)械性能的檢查。這項(xiàng)檢查可在篩選開始時(shí)進(jìn)行，并在后續(xù)過程中重復(fù)。

6. 粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND)

   采用GJB128A 2052方法進(jìn)行粒子碰撞噪聲檢測(cè)，主要檢測(cè)二極管內(nèi)部是否存在游離顆粒，這些顆?？赡軐?dǎo)致二極管在使用過程中出現(xiàn)不穩(wěn)定的情況。

7. 高溫反偏(HTRB)

   依據(jù)GJB128A 1038方法，對(duì)二極管施加0.75倍的反向電壓，并在125±2℃的高溫環(huán)境下持續(xù)進(jìn)行96小時(shí)、72小時(shí)或48小時(shí)的測(cè)試。此測(cè)試用于檢驗(yàn)二極管在高溫高壓條件下的耐受能力。

8. 老練前電參數(shù)測(cè)試(室溫)

   在老練測(cè)試前，再次對(duì)二極管進(jìn)行室溫下的電參數(shù)測(cè)試，確保器件的初始性能符合規(guī)范要求。

9. 老練(室溫)

   依據(jù)GJB128A 1038方法，在室溫下對(duì)二極管進(jìn)行老練測(cè)試。通過長(zhǎng)時(shí)間施加電流，提前暴露二極管潛在的早期失效模式，時(shí)間跨度為240小時(shí)、160小時(shí)或96小時(shí)。

10. 老練后電參數(shù)測(cè)試(室溫)

    對(duì)老練后的二極管再次進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試，并計(jì)算Δ值不合格品率。針對(duì)不同等級(jí)的器件，不合格品率（PDA）的要求分別為Ⅰ級(jí)≤5%、Ⅱ級(jí)≤10%、Ⅲ級(jí)≤15%。

11. 電參數(shù)測(cè)試(高溫)

    在高溫條件下測(cè)試二極管的電參數(shù)，確保其在高溫環(huán)境中的性能穩(wěn)定。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)LTPD=10，若樣品不通過測(cè)試，則需對(duì)所有樣品進(jìn)行全面檢測(cè)。

12. 電參數(shù)測(cè)試(低溫)

    在低溫條件下進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試，確保二極管在低溫環(huán)境中的可靠性。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)同樣為L(zhǎng)TPD=10。

13. 密封測(cè)試（細(xì)檢漏、粗檢漏）

    依據(jù)GJB128A 1071方法，進(jìn)行細(xì)檢漏和粗檢漏測(cè)試。該測(cè)試主要針對(duì)有內(nèi)腔的二極管元器件，確保其在密封狀態(tài)下不會(huì)出現(xiàn)漏氣或滲透的問題。

14. 外觀及機(jī)械檢查

    在篩選流程的最后，再次對(duì)二極管進(jìn)行外觀和機(jī)械檢查，確保所有篩選后的元器件外觀完好，機(jī)械性能滿足要求。

二極管元器件的二次篩選通過一系列嚴(yán)格的測(cè)試，有效剔除潛在的早期失效產(chǎn)品，確保其在實(shí)際應(yīng)用中的高可靠性。這些篩選步驟不僅能夠提升電子設(shè)備的穩(wěn)定性和使用壽命，還為整機(jī)系統(tǒng)的可靠性提供了堅(jiān)實(shí)保障。在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制中，二次篩選已成為不可或缺的重要環(huán)節(jié)。