美國空軍AVIP統(tǒng)計數(shù)據(jù)表明，振動應(yīng)力引起電子元器件失效達(dá)20%以上。除溫度外，振動應(yīng)力已經(jīng)成為電子元器件失效的第二大原因，在電子元器件研發(fā)設(shè)計過程中進(jìn)行振動應(yīng)力試驗(yàn)研究十分重要。

優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方元器件篩選檢測機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備元器件振動試驗(yàn)檢測資質(zhì)和檢測能力，可完成GJB 150A、GJB 548B、GJB360B、GJB128A、MIL STD 810G等標(biāo)準(zhǔn)的元器件振動篩選試驗(yàn)。

振動造成電子元器件主要的失效形式

1. 疲勞斷裂

由于振動產(chǎn)生的交變應(yīng)力，會使電子元器件或元器件內(nèi)部產(chǎn)生疲勞裂紋，這些裂紋在長期使用過程中不斷擴(kuò)展，最終導(dǎo)致電子元器件失效，例如長時間的振動形成的累積損傷會導(dǎo)致元器件中焊點(diǎn)產(chǎn)生疲勞破壞，引發(fā)元器件失效；

2. 結(jié)構(gòu)損傷

在振動狀態(tài)下，當(dāng)外部激勵頻率與機(jī)械結(jié)構(gòu)元件內(nèi)部的諧振頻率相近時，機(jī)械結(jié)構(gòu)原件會以更高的幅度振動，使元器件的機(jī)械結(jié)構(gòu)受到過度振動，從而導(dǎo)致結(jié)構(gòu)損傷、破壞。許多帶有一定機(jī)械結(jié)構(gòu)的元件，諸如繼電器，接觸器等，外部激勵頻率達(dá)到其內(nèi)部諧振頻率時，易導(dǎo)致其結(jié)構(gòu)破壞喪失正常功能；

3. 摩擦磨損

振動會加劇電子元器件之間的摩擦和磨損，導(dǎo)致接觸不良、磨損嚴(yán)重等問題，從而影響電子元器件的性能和壽命，如密封件松動、老化等，進(jìn)而導(dǎo)致內(nèi)部元器件受潮、腐蝕等，從而導(dǎo)致元器件的密封失效。

在振動應(yīng)力作用下，無論是哪種原因?qū)е码娮釉骷В加锌赡軐?dǎo)致整個系統(tǒng)喪失正常功能乃至失效。目前，電子元器件可靠性設(shè)計中振動試驗(yàn)的地位逐漸提高，已經(jīng)成為可靠性增長設(shè)計中極為重要的部分。

元器件振動篩選常用標(biāo)準(zhǔn)

1. GJB 128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

2. GJB 150A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法

3. GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

4. GJB548C-2021 微電子期間試驗(yàn)方法和程序

5. MIL STD 810G-2008 Environmental Engineering Considerations and Laboratory Tests

元器件振動篩選常用方法

1. 振動量級：功率譜密度一般取0.04g2/Hz，對于包含有光電和機(jī)電裝置等對振動敏感的產(chǎn)品，局部敏感頻率可進(jìn)行下凹。

2. 振動方向：三向篩選在尋找缺陷方面最有效，因此一般選擇三向。為經(jīng)濟(jì)起見，亦可選擇振動最敏感單軸篩選或兩軸依次篩選，如以線路板為主要構(gòu)成的電子產(chǎn)品，可主要考慮線路板垂直方向和元器件的剪切方向。

3. 振動時長：

 - 推薦單軸振動10min，雙軸振動每軸7.5min，三軸振動每軸5min；

 - 篩選和尋找故障用的總振動時間一般不超過20min。

4. 加電要求：振動過程中應(yīng)通電并進(jìn)行性能檢測，以及時發(fā)現(xiàn)故障和保證間歇故障不漏檢，提高尋找故障效率。

5. 注意事項(xiàng)：試驗(yàn)夾具在試驗(yàn)頻率范圍內(nèi)不應(yīng)有明顯(一般小于3dB)的放大和衰減。

元器件振動篩選報告辦理流程

1. 前期咨詢：提供需委托檢測項(xiàng)目、測試條件或測試標(biāo)準(zhǔn)；

2. 評估報價：根據(jù)檢測要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評估報價；

3. 填寫委托書：向優(yōu)科發(fā)起檢測申請，填寫委托書（會有專人指導(dǎo)填寫）；

4. 付款及提供樣品資料：按照協(xié)定報價支付費(fèi)用，按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料；

5. 安排檢測：按委托要求對產(chǎn)品進(jìn)行檢測；

6. 出具報告：依據(jù)檢測數(shù)據(jù)出具報告，將報告、發(fā)票及樣品回寄客戶。