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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-01-02 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構(gòu)，實驗室具備發(fā)光二極管GJB標準CNAS檢測資質(zhì)和檢測能力，可提供發(fā)光二極管二次篩選、失效分析及環(huán)境可靠性驗證服務。
GJB 33A-1997 《半導體分立器件總規(guī)范》
GJB 5018-2001 《半導體光電子器件篩選與驗收通用要求》
GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》
1. 內(nèi)部目檢；
2. 常溫電參數(shù)測試；
3. 高溫貯存；
4. 溫度循環(huán)；
5. 恒定加速度（適用于空封器件）；
6. PIND（適用于空封器件）；
7. 編序列號；
8. 初始電參數(shù)測試；
9. 中間電參數(shù)測試；
10. PDA；
11. 功率老練；
12. 老練后電參數(shù)測試（計算△值和PD）；
13. 高溫電參數(shù)測試；
14. 低溫電參數(shù)測試；
15. 密封試驗（細檢漏、粗檢漏）；
16. 終點電參數(shù)測試；
19. 外觀檢查。
1. 反向漏電流 IR；
2. 反向擊穿電壓 VR；
3. 正向壓降 VF；
4. 法向光強IV或輻射功率 Po。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業(yè)人員技術(shù)培訓服務，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業(yè)設(shè)備
配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng)，老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設(shè)備30臺套、半導體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設(shè)備等。
3. 一站式方案服務
依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權(quán)威保障
軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。
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