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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2019-09-04 瀏覽數(shù)量：
廣東優(yōu)科檢測是已獲得CNAS和CMA資質認可的第三方檢測機構，實驗室配備高低溫（濕熱）試驗箱，可提供SD卡溫度循環(huán)試驗測試服務，并可出具溫度循環(huán)試驗測試報告。
SD卡溫度循環(huán)測試
1. 測試設備
高低溫（濕熱）試驗箱
高低溫濕熱試驗箱適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項性能指標的檢驗。
2. 實驗室環(huán)境條件
溫度：25℃±5℃
相對濕度：55%±15%（RH）
3. 測試參考文件
此測試條件依據委托客戶要求的規(guī)范
4. 測試條件
待測物為非運作狀態(tài)；
測試溫度范圍：-55℃至+125℃；
駐留時間：每個高低溫度測試點各停留10分鐘；
溫度轉換時間：5分鐘；
循環(huán)時間：30分鐘；
循環(huán)數(shù)：100循環(huán)。
5. 測試結果
測試后，產品功能及外觀檢測正常。
以上就是關于SD卡溫度循環(huán)試驗測試哪里可以做的介紹，如果您有航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件產品需要做溫度循環(huán)試驗測試，歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測工程師！
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