對于元器件來說，高低溫測試是十分重要的一個(gè)測試項(xiàng)目，半導(dǎo)體當(dāng)然也囊括其中，作為半導(dǎo)體高低溫測試第三方檢測機(jī)構(gòu)，廣東優(yōu)科檢測將為您講解該測試的相關(guān)信息，希望對您有所幫助！

半導(dǎo)體高低溫測試的目的

用于測試半導(dǎo)體在瞬間下經(jīng)高溫或較低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

半導(dǎo)體高低溫測試標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》

2.GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》

3.GB/T 2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》

4.GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）》

5.GB/T 2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化》

6.GB/T 5170.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則》

半導(dǎo)體高低溫測試注意事項(xiàng)

1、半導(dǎo)體高低溫測試裝置的電源采用三相四線制，電源線連接電源線、零線和地線。用電控箱上的穿孔將機(jī)組的主電源線連接到箱內(nèi)的接線柱上，確保連接緊密。

2、主電源電壓：在額定電壓要求范圍內(nèi)。

3、當(dāng)主電源電壓波動(dòng)超過規(guī)定范圍時(shí)，不允許啟動(dòng)半導(dǎo)體高低溫測試裝置，否則視為操作不當(dāng)。

4、半導(dǎo)體高低溫測試裝置設(shè)有電流過載保護(hù)、壓縮機(jī)排氣端高低壓保護(hù)、電機(jī)線圈過熱保護(hù)、防冰保護(hù)、冷卻水流量聯(lián)鎖保護(hù)等措施和控制電路。

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