什么是元器件老練篩選試驗(yàn)？

元器件老練篩選試驗(yàn)（Burn-in test），是指在一定的環(huán)境溫度下、較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)對(duì)元器件連續(xù)施加一定的電應(yīng)力，通過(guò)電-熱應(yīng)力的綜合作用來(lái)加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程，促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。

元器件老練篩選試驗(yàn)作用

1. 對(duì)于工藝制造過(guò)程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋、氧化層缺陷和局部發(fā)熱點(diǎn)等都有較好的篩選效果。

2. 對(duì)于無(wú)缺陷的元器件，老煉也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定。

元器件老練篩選試驗(yàn)常用方法

1. 常溫靜態(tài)功率老煉

常溫靜態(tài)功率老煉就是使器件處在室溫下老煉。半導(dǎo)體的PN結(jié)處于正偏導(dǎo)通狀態(tài)，器件老煉所需要的熱應(yīng)力，是由器件本身所消耗的功率轉(zhuǎn)換而來(lái)的。由于器件在老煉過(guò)程中受到電、熱的綜合作用，器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程被加速，促使其潛在缺陷提前暴露，從而把有缺陷的器件剔除。這種老煉方法無(wú)需高溫設(shè)備，操作也很簡(jiǎn)便，因此被普遍采用。在器件的安全范圍內(nèi)，適當(dāng)加大老煉功率（提高器件結(jié)溫）可以收到更好的老煉效果，并且可以縮短老煉時(shí)間。

2. 高溫靜態(tài)功率老煉

高溫靜態(tài)功率老煉的加電方式及試驗(yàn)電路形式均與常溫靜態(tài)功率老煉相同，區(qū)別在于前者在較高的環(huán)境溫度下進(jìn)行。由于器件處在較高的環(huán)境溫度下進(jìn)行老煉，集成電路的結(jié)溫就可達(dá)到很高的溫度。因此，一般說(shuō)來(lái)，集成電路的高溫靜態(tài)功率老煉效果比常溫靜態(tài)功率老煉要好。

3. 高溫反偏老煉

在高溫反偏老煉中，器件的PN結(jié)被同時(shí)加上高溫環(huán)境應(yīng)力和反向偏壓電應(yīng)力，器件內(nèi)部無(wú)電流或僅有微小的電流通過(guò)，幾乎不消耗功率。這種老煉方法對(duì)剔除具有表面效應(yīng)缺陷的早期失效器件特別有效，因而在一些反向應(yīng)用的半導(dǎo)體器件老煉中得到廣泛的應(yīng)用。

4. 高溫動(dòng)態(tài)老煉

高溫動(dòng)態(tài)老煉主要用于數(shù)字器件，這種老煉方法是在被老煉器件的輸入端由脈沖信號(hào)驅(qū)動(dòng)，使器件不停地處于翻轉(zhuǎn)狀態(tài)。這種老煉方法很接近器件的實(shí)際使用狀態(tài)。

元器件老練篩選試驗(yàn)的階段

老煉試驗(yàn)通常分為三個(gè)階段：老煉測(cè)試前、老煉試驗(yàn)和老煉后測(cè)試。

老煉前測(cè)試主要是進(jìn)行基本的電參數(shù)和功能測(cè)試，用以剔除含有質(zhì)量缺陷的器件，避免此類(lèi)器件占用老煉設(shè)備和資源。電參數(shù)測(cè)試主要直流參數(shù)測(cè)試包括保證測(cè)試接口與電路正常的連接的接觸測(cè)試，漏電流與驅(qū)動(dòng)電流的測(cè)試和轉(zhuǎn)換電平的測(cè)試。

老煉試驗(yàn)實(shí)施時(shí)，將電路置于老煉板上，并放入老煉箱中施加熱應(yīng)力和電應(yīng)力，激發(fā)電路的早期失效。老煉后測(cè)試是將經(jīng)過(guò)老煉的電路進(jìn)行全面的電參數(shù)測(cè)試包括確定電路穩(wěn)態(tài)時(shí)的直流參數(shù)測(cè)試，不同頻率下與時(shí)間相關(guān)的交流參數(shù)測(cè)試和滿足設(shè)計(jì)要求的功能性測(cè)試。測(cè)試環(huán)境包括常溫、低溫和高溫。

電子元器件老練篩選機(jī)構(gòu)

優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證是擁有CNAS、DILAC實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)的專(zhuān)業(yè)第三方電子元器件老練篩選機(jī)構(gòu)，專(zhuān)注電子元器件檢測(cè)近二十年，擁有齊全的元器件檢測(cè)分析、環(huán)境與可靠性試驗(yàn)及電磁兼容檢測(cè)能力，可開(kāi)展包括阻容器件、分立器件、電連接器、集成電路等產(chǎn)品的檢測(cè)篩選與失效分析等工作。