電子元器件的質(zhì)量可靠性水平?jīng)Q定了裝備或整機產(chǎn)品功能指標(biāo)、可靠性、可用性、維修性及安全性。隨著工業(yè)、軍事和民用等部門對電子產(chǎn)品的質(zhì)量要求日益提高，電子設(shè)備的可靠性問題受到了越來越廣泛的重視。對電子元器件進行篩選是提高電子設(shè)備可靠性的最有效措施之一。

電子元器件的二次篩選是指在元器件廠家篩選的基礎(chǔ)上，由使用方或其委托的第三方對電子元器件進行的篩選。優(yōu)科檢測認證是專業(yè)第三方電子元器件二次篩選機構(gòu)，接下來為大家介紹元器件二次篩選如何確定篩選試驗方法及篩選項目。

篩選的有效性：

根據(jù)以往產(chǎn)品篩選的試驗數(shù)據(jù)積累，確定對剔除早期失效品篩選有效（在非破壞性應(yīng)力作用下，淘汰率較高）的試驗項目。對篩選淘汰率極低或根本不能把有缺陷產(chǎn)品篩選出來的試驗項目應(yīng)不列入篩選試驗中。評價一個篩選方案是否有效，可以用篩選效果和篩選淘汰率等指標(biāo)來衡量，而篩選的有效性又主要取決于篩選項目和應(yīng)力的選取是否合理，要獲得完全理想的篩選效果絕非易事。同樣要獲得篩選效果的數(shù)據(jù)也需要做大量的摸底試驗，人們經(jīng)過大量的實驗積累了豐富的經(jīng)驗，現(xiàn)已對這些實踐經(jīng)驗進行了總結(jié)，形成了標(biāo)準(zhǔn)。因此一般產(chǎn)品均根據(jù)其質(zhì)量與可靠性保證等級所規(guī)定的篩選要求進行篩選，但當(dāng)某種產(chǎn)品經(jīng)篩選后經(jīng)常出現(xiàn)質(zhì)量一致性檢驗不合格時，則應(yīng)考慮采用的篩選方案是否合適。

篩選試驗應(yīng)力的確定原則：

篩選試驗的應(yīng)力條件首要是非破壞性的，即通過篩選不能對產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性產(chǎn)生影響，但試驗應(yīng)力也不能偏低，低了起不到篩選作用。原則上，確定篩選項目和應(yīng)力條件應(yīng)依據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。對于新研制的元器件產(chǎn)品，篩選試驗應(yīng)力的大小可通過摸底試驗或類似產(chǎn)品的現(xiàn)場使用信息來確定。選擇篩選應(yīng)力的主要原則是：

- 篩選應(yīng)力類型應(yīng)選擇能激發(fā)早期失效的應(yīng)力，根據(jù)不同產(chǎn)品所掌握的信息及失效機理來確定；

- 篩選應(yīng)力應(yīng)以能激發(fā)出早期失效為宗旨，使產(chǎn)品各種隱患和缺陷盡快暴露出來；

- 篩選應(yīng)力不應(yīng)使正常產(chǎn)品失效；

- 篩選應(yīng)力去掉后，不應(yīng)使產(chǎn)品留下殘余應(yīng)力或影響產(chǎn)品的使用壽命；

- 應(yīng)力篩選試驗持續(xù)時間應(yīng)以能充分暴露早期失效為原則。

篩選試驗方法：

篩選試驗可分為常規(guī)篩選(如密封性篩選)和特殊環(huán)境篩選(如抗輻射、鹽霧等)。我們主要介紹常規(guī)篩選方法。常規(guī)篩選方法主要有如下幾種：

1、檢查篩選

檢查篩選可采取鏡檢、紅外線篩選、X射線篩選。紅外線篩選可以剔除體內(nèi)或表面熱缺陷嚴重的器件，X射線篩選主要用于檢查管殼內(nèi)有無外來物和裝片、鍵合或封裝工序的缺陷以及芯片裂紋。

2、密封性篩選(如氣泡法、氦質(zhì)譜儀法、放射性氣體、示蹤檢漏法)，用于剔除管殼及密封工藝中所在的缺陷（如裂紋、微小漏孔、氣孔以及封裝對位欠佳）。

3、環(huán)境應(yīng)力篩選(如振動加速度、沖擊加速度、離心加速度、溫度循環(huán)和熱沖擊等)；

4、壽命篩選(高溫貯存、低溫貯存、老練篩選、精密篩選、線性判別)；

5、電測試篩選(對晶體管的補充手段)。

在實際中也常采用物理篩選和老煉篩選相結(jié)合的方式進行。老煉篩選效果好但成本高，物理篩選雖成本低，但效果差。