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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-06-28 瀏覽數(shù)量：
粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗是一種用于密封元器件可靠性保障的測試方法。密封元器件在生產(chǎn)過程中存在著一個被忽視的風(fēng)險，即內(nèi)部可能存在多余的微小松散顆粒，這些顆粒可能會導(dǎo)致元器件失效。PIND試驗可以有效地檢測到密封元器件內(nèi)部的這些多余微小顆粒，從而避免質(zhì)量事故的發(fā)生。
PIND試驗的原理是利用振動裝置、驅(qū)動裝置、沖擊裝置或工具、閾值檢測器、粘附劑、傳感器等設(shè)備，對元器件進(jìn)行近似實(shí)際應(yīng)用條件的正弦振動和脈沖沖擊環(huán)境。通過一系列振動和沖擊循環(huán)，當(dāng)存在足夠大質(zhì)量的顆粒時，這些顆粒在與器件封裝殼體碰撞時會激活傳感器，從而被探測出來。PIND試驗是一種非破壞性的測試方法，旨在檢測元器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子。
器件樣品信息：
器件名稱：集成電路
器件型號：M27C512
試驗依據(jù)：GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序 方法2020.1
PIND試驗項目和條件：
| 試驗順序 | 試驗條件 |
| 試驗前沖擊 | 1000g，3次 |
| 振動 | 20g，1次，60HZ，3s |
| 與上條振動同時進(jìn)行沖擊 | 1000g，3次 |
| 振動 | 20g，1次，60HZ，3s |
| 與上條振動同時進(jìn)行沖擊 | 1000g，3次 |
| 振動 | 20g，1次，60HZ，3s |
| 與上條振動同時進(jìn)行沖擊 | 1000g，3次 |
| 振動 | 20g |
請注意，以上是對粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗的簡要介紹和一個案例分享。該試驗方法在密封元器件的可靠性保障中起著重要作用，幫助發(fā)現(xiàn)并避免因多余微小顆粒引起的質(zhì)量事故。
優(yōu)科檢測實(shí)驗室配備粒子碰撞噪聲檢測儀，可進(jìn)行繼電器、電源模塊、晶振、半導(dǎo)體分立器件、集成電路等諸多類型空腔元器件的粒子碰撞噪聲檢測（PIND）試驗，可有效地提高電子元器件的使用可靠性。
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